PWS-Scan-M 金相掃描儀
金相顯微鏡是可以實現明視野、 暗視野、微分干涉、簡易偏光觀察的金相顯微鏡，可連接數字式相機，可以構筑多種功能的觀察研究系統的型號科研級正置系統金相顯微鏡。應用領域： 金相分析、半導體檢測、納米膜缺陷檢測、礦物質分析
技術亮點：
1. 全自主可控技術、自由度高、不受空間尺寸約束；
2. 全天候技術服務、科研級高端定制、最原始數據；
成像質量：
配置參數：
| 配置 | 參數 |
| 切片數量 |
單次裝載3片 |
| 照明光源 |
LED專業照明，工作時間≥10000h |
| 掃描方式 | 連續面掃描 |
| 掃描物鏡 | 10x 20x 50x(5個物鏡口)，可自行搭配 |
| 掃描機構 | 高精度絲杠 |
| 運動精度 | XYZ三軸：0.1微米；物鏡：≤5微米 |
| 成像模式 | 支持暗場，偏光 |
| 圖片預覽 | 無級縮放、標注、截圖等功能 |
| 圖片格式 | Tiff、SVG、Dzi. 支持上傳到云端，遠程查看 |
| 工作主機 |
內存16G，Win10，i7處理器，24寸顯示屏 |